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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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Curatore:
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Editore:
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Collana:MRS Proceedings
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Anno:2014
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Rilegatura:Paperback / softback
Pagine:
514 p.
Testo in English
Dimensioni:
229 x 152 mm
Peso:
680 gr.
EAN:
9781107409484
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